2021年9月1日，《Postharvest biology and technology》發(fā)布了名為“Spatial frequency domain imaging for determining absorption and scattering properties of bruised pears based on profile corrected diffused reflectance”的研究分析畢業(yè)論文，該畢業(yè)論文以南京市財經(jīng)大學(xué)為第一企業(yè)，何學(xué)明博士研究生為第一作者。此項科研工作中取得了江蘇社會(huì )科學(xué)股票基金、農業(yè)農村部農業(yè)產(chǎn)品原產(chǎn)地解決武器裝備重點(diǎn)實(shí)驗室開(kāi)放課題與自然科學(xué)基金的支助。

　　新鮮水果斜面輪廊對運用室內空間時(shí)域顯像（SFDI）技術(shù)性精確測量吸收率（μa）與約化散射系數（μ‘s）有較大危害。在本分析中，應用已研發(fā)的結構光顯像系統軟件開(kāi)展相位差精確測量輪廊術(shù)（PMP）的檢驗，以得到 被測物件的表層相對高度。對平面圖和球面幾何實(shí)體模型開(kāi)展蒙特卡洛（MC）模擬仿真，依據模擬結果明確漫反射光率（Rd）校準公式計算，并且用規范反射層開(kāi)展認證。應用五個(gè)圓柱狀固態(tài)仿體認證所提到的Rd校準方式對估計μa和μ\’s數值危害，結果顯示，2個(gè)主要參數精密度和勻稱(chēng)耐熱性獲得了明顯提升，相對偏差范疇各自為0.78%-11.84%和2.83%-8.95%，校準后的μa和μ\’s的相對標準偏差范疇各自為1.89×10-5 – 1.42×10-3 mm-1和1.76×10-4 – 8.17×10-3 mm-1。最終，將所提到的Rd校準方式用以梨機械設備損害檢測中，對一切正常梨和損害梨的μa和μ\’s圖譜開(kāi)展了較為。結果顯示，在Rd校準前，一切正常梨輪廊最高處周邊的地區非常容易被鑒別為損害區；校準后，一切正常梨的μa和μ\’s圖更加勻稱(chēng)，損害梨的損害地區更加突顯。本分析中提到的輪廊校準方式，融合SFDI技術(shù)性，針對精準測量梨機構的μa和μ\’s尤為重要，進(jìn)而降低梨損害檢驗時(shí)的錯判。

　　全文連接：https://doi.org/10.1016/j.postharvbio.2021.111570